局部放電試驗(yàn)常見的干擾類型及處理方法
在試驗(yàn)總的各種干擾,會(huì)降低局部放電試驗(yàn)的檢測(cè)靈敏度,試驗(yàn)時(shí),應(yīng)使干擾水平抑制到最低水平。干擾類型通常有:電源干擾、接地系統(tǒng)干擾、電磁輻射干擾、試驗(yàn)設(shè)備各元件的放電干擾及各類接觸干擾。
1、電源干擾。檢測(cè)儀及試驗(yàn)變壓器所用的電源是與低壓配電網(wǎng)相連的,配電網(wǎng)內(nèi)的各種高頻信號(hào)均能直接產(chǎn)生干擾。因此,通常采用屏蔽式電源隔離變壓器及低通濾波器抑制,效果甚好。
2、接地干擾。試驗(yàn)回路接地方式不當(dāng),例如兩點(diǎn)及以上接地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中,各種高頻信號(hào)會(huì)經(jīng)接地線耦合到試驗(yàn)回路產(chǎn)生干擾。這種干擾一般與試驗(yàn)電壓高低無關(guān)。試驗(yàn)回路采用一點(diǎn)接地,可降低這種干擾。
3、電磁輻射干擾。鄰近高壓帶電設(shè)備或高壓輸電線路,無線電發(fā)射器及其它諸如可控硅、電刷等試驗(yàn)回路以外的高頻信號(hào),均會(huì)以電磁感應(yīng)、電磁輻射的形式經(jīng)雜散電容或雜散電感耦合到試驗(yàn)回路,它的波形往往與試品內(nèi)部放電不易區(qū)分,對(duì)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量影響較大。其特點(diǎn)是與試驗(yàn)電壓無關(guān)。消除這種干擾的根本對(duì)策是將試品置于屏蔽良好的試驗(yàn)室。采用平衡法、對(duì)稱法和模擬天線法的測(cè)試回路,也能抑制輻射干擾。
4、懸浮電位放電干擾。鄰近試驗(yàn)回路的不接地金屬物產(chǎn)生的感應(yīng)懸浮電位放電,也是常見的一種干擾。其特點(diǎn)是隨試驗(yàn)電壓升高而增大,但其波形一般較易識(shí)別。消除的對(duì)策一是搬離,二是接地。
5、電暈放電和各連接處接觸放電的干擾。電暈放電產(chǎn)生于試驗(yàn)回路處于高電位的導(dǎo)電部分,例如試品的法蘭、金屬蓋帽、試驗(yàn)變壓器、耦合電容器端部及高壓引線等尖端部分。試驗(yàn)回路中由于各連接處接觸不良也會(huì)產(chǎn)生接觸放電干擾。這兩種干擾的特性是隨試驗(yàn)電壓的升高而增大。消除這種干擾是在高壓端部采用防暈措施(如防暈環(huán)等),高壓引線采用無暈的導(dǎo)電圓管,以及保證各連接部位的良 好接觸等。
6、試驗(yàn)變壓器和耦合電容器內(nèi)部放電干擾。這種放電容易和試品內(nèi)部放電相混淆。因此,使用的試驗(yàn)變壓器和耦合電容器的局部放電水平應(yīng)控制在一定的允許量以下。