微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀dv/dt閉鎖
微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀dv/dt閉鎖。
這個(gè)測(cè)試頁與上文中的“df/dt閉鎖”很相似,區(qū)別在于每輪測(cè)試變化的是dv/dt值。下面只對(duì)它們的不同點(diǎn)做介紹。
dv/dt測(cè)試范圍
測(cè)試“dv/dt閉鎖值”時(shí)在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試,每次測(cè)試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值,下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化,試探至某一輪試驗(yàn)如果保護(hù)動(dòng)作,則測(cè)出dv/dt閉鎖的邊界值。
因?yàn)檠b置在大于整定的dV/dt閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài),所以,一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值,變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動(dòng)作做到動(dòng)作,從而測(cè)出裝置的dv/dt閉鎖值。
電壓變化范圍
為了模擬電壓下降的過程,一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時(shí),為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖,因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。
這個(gè)測(cè)試頁與上文中的“df/dt閉鎖”很相似,區(qū)別在于每輪測(cè)試變化的是dv/dt值。下面只對(duì)它們的不同點(diǎn)做介紹。
dv/dt測(cè)試范圍
測(cè)試“dv/dt閉鎖值”時(shí)在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試,每次測(cè)試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值,下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化,試探至某一輪試驗(yàn)如果保護(hù)動(dòng)作,則測(cè)出dv/dt閉鎖的邊界值。
電壓變化范圍
為了模擬電壓下降的過程,一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時(shí),為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖,因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。