直流泄漏電流測(cè)量和直流耐壓試驗(yàn)方法和特點(diǎn)

  由于絕緣電阻測(cè)量的局限性，所以在絕緣試驗(yàn)中就出現(xiàn)了測(cè)量泄漏電阻的項(xiàng)目。測(cè)量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用高壓整流設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。由于試驗(yàn)電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點(diǎn)，用微安表直測(cè)泄漏電流，這可以做到隨時(shí)進(jìn)行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時(shí)間的關(guān)系曲線來(lái)判斷絕緣的缺陷。因此，它屬于非破壞性試驗(yàn)。

  電壓是分階段地加到絕緣物上，便可以對(duì)電壓進(jìn)行控制。當(dāng)電壓增加時(shí)，薄弱的絕緣將會(huì)出現(xiàn)大的泄漏電流，也就是得到較低的絕緣電阻。

  直流泄漏電流試驗(yàn)與直流耐壓試驗(yàn)的接線及原理相同，且在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)中多同步進(jìn)行。其原理與絕緣電阻測(cè)量相同，不同之處在于測(cè)量泄漏電流或直流耐壓試驗(yàn)時(shí)所用的電源多采用可調(diào)的直流高壓裝置-直流高壓發(fā)生器，并用微安表計(jì)直接測(cè)量流過(guò)試品的電流。

  直流泄漏電流試驗(yàn)和直流耐壓試驗(yàn)常利用同一套直流高壓發(fā)生器裝置同時(shí)進(jìn)行。

  試驗(yàn)方法：加高壓，測(cè)電流。利用直流高壓發(fā)生器可以調(diào)節(jié)所需要的高電壓，并利用微安表精確測(cè)量泄漏電流的大小。

  試驗(yàn)特點(diǎn)：

  (1)試驗(yàn)電壓較高，并可隨意調(diào)節(jié)。

  測(cè)量泄漏電流時(shí)是對(duì)一定電壓等級(jí)的被試設(shè)備施以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓，這個(gè)試驗(yàn)電壓比兆歐表額定電壓高得多，所以容易使絕緣本身的弱點(diǎn)暴露出來(lái)。因?yàn)榻^緣中的某些缺陷或弱點(diǎn)，只有在較高的電場(chǎng)強(qiáng)度下才能暴露出來(lái)。

  (2)試驗(yàn)電壓穩(wěn)定，微安級(jí)表計(jì)直接測(cè)量泄漏電流，靈敏度較高，在相同試驗(yàn)條件下重復(fù)性較好。

  要換算首先要知道加到被試設(shè)備上的電壓是多少，兆歐表雖然在銘牌上刻有規(guī)定的電壓值，但加到被試設(shè)備上的實(shí)際電壓并非一定是此值，而與被試設(shè)備絕緣電阻的大小有關(guān)。當(dāng)被試設(shè)備的絕緣電阻很低時(shí)，作用到被試設(shè)備上的電壓也非常低，只有當(dāng)絕緣電阻趨于無(wú)窮大時(shí)，作用到被試設(shè)備上的電壓才接近于銘牌值。這是因?yàn)楸辉囋O(shè)備絕緣電阻過(guò)低時(shí)，兆歐表內(nèi)阻壓降使“線路”端子上的電壓顯著下降。

  (3)泄漏電流試驗(yàn)時(shí)可以作出泄漏電流與加壓時(shí)間的關(guān)系曲線和泄漏電流與所加電壓的關(guān)系曲線，可判斷絕緣狀況。在直流電壓作用下，當(dāng)絕緣受潮或有缺陷時(shí)，電流隨加壓時(shí)間下降得比較慢，最終達(dá)到的穩(wěn)態(tài)值也較大，即絕緣電阻較小。

  (4)試驗(yàn)儀器直流高壓發(fā)生器，輕便，適合現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)攜帶。

  直流耐壓試驗(yàn)與直流泄露電流試驗(yàn)方法相同，但作用不同

  直流耐壓試驗(yàn)電壓高、時(shí)間長(zhǎng)--考驗(yàn)絕緣強(qiáng)度;

  直流泄露電流試驗(yàn)電壓相對(duì)低--檢查絕緣狀況。