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泄漏電流測(cè)量試驗(yàn)結(jié)果判斷及影響因素說明

泄漏電流測(cè)量的特點(diǎn)

測(cè)量泄漏電流的原理和測(cè)量絕緣電阻的原理本質(zhì)上是完全相同的,而且能檢出缺陷的性質(zhì)也大致相同。但由于泄漏電流測(cè)量中所用的電源一般均由高壓整流設(shè)備供給并用微安表直接讀取泄漏電流。因此,它與絕緣電阻測(cè)量相比又有自己的以下特點(diǎn):

試驗(yàn)電壓高,并且可隨意調(diào)節(jié)。測(cè)量泄漏電流時(shí),是對(duì)一定電壓等級(jí)的被試設(shè)備施以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓,這個(gè)試驗(yàn)電壓比兆歐表額定電壓高得多,所以容易使絕緣本身的弱點(diǎn)暴露出來。因?yàn)榻^緣中的某些缺陷或弱點(diǎn),只有在較高的電場(chǎng)強(qiáng)度下才能暴露出來。

微安表

泄漏電流可由微安表隨時(shí)監(jiān)視,靈敏度高,測(cè)量重復(fù)性也較好。

根據(jù)泄漏電流測(cè)量值可以換算出絕緣電阻值,而用兆歐表測(cè)出的絕緣電阻值則不可換算出泄漏電流值。因?yàn)橐獡Q算首先要知道加到被試設(shè)備上的電壓是多少,兆歐表雖然在銘牌上刻有規(guī)定的電壓值,但加到被試設(shè)備上的實(shí)際電壓并非一定是此值,而與被試設(shè)備絕緣電阻的大小有關(guān)。當(dāng)被試設(shè)備的絕緣電阻很低時(shí),作用到被試設(shè)備上的電壓也非常低,只有當(dāng)絕緣電阻趨于無窮大時(shí),作用到被試設(shè)備上的電壓才接近于銘牌值。這是因?yàn)楸辉囋O(shè)備絕緣電阻過低時(shí),兆歐表內(nèi)阻壓降使線路端子上的電壓顯著下降。

影響測(cè)量結(jié)果的主要因素

高壓連接導(dǎo)線

表面泄漏電流

溫度

電源電壓的非正弦波形

加壓速度

試驗(yàn)電壓極性

測(cè)量時(shí)的操作規(guī)定:

按接線圖接好線,并由專人認(rèn)真檢查接線和儀器設(shè)備,當(dāng)確認(rèn)無誤后,方可通電及升壓。

在升壓過程中,應(yīng)密切監(jiān)視被試設(shè)備、實(shí)驗(yàn)回路及有關(guān)表計(jì)。微安表的讀數(shù)應(yīng)在升壓過程中,按規(guī)定分階段進(jìn)行,且需要有一定的停留時(shí)間以避開吸收電流。

在測(cè)量過程中,若有擊穿、閃絡(luò)等異?,F(xiàn)象發(fā)生,應(yīng)馬上降壓,以開電源,并查明原肉詳細(xì)記錄,待妥善處理后,再繼續(xù)測(cè)量

實(shí)驗(yàn)完畢、降壓、斷開電源后,均應(yīng)對(duì)被試設(shè)備進(jìn)行充分放電。

若是三相設(shè)備,同理應(yīng)進(jìn)行其它兩項(xiàng)測(cè)量。按照規(guī)定的要求進(jìn)行詳細(xì)記錄。

測(cè)量結(jié)果:

對(duì)某一電氣設(shè)備進(jìn)行泄漏電流測(cè)量后,應(yīng)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行認(rèn)真、全面地分析,以判斷設(shè)備的絕緣狀況,做出結(jié)論是合格或不合格。
對(duì)泄漏電流測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析、判斷可從下述幾方面著手。

與規(guī)定值比較

泄漏電流的規(guī)定值就是其允許的標(biāo)準(zhǔn),它是在生產(chǎn)實(shí)踐中根據(jù)積累多年的經(jīng)驗(yàn)制訂出來的,一般能說明絕緣狀況。對(duì)于一定的設(shè)備,具有一定的規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。這是最簡(jiǎn)便的判新方法。

比較對(duì)稱系數(shù)法

在分析泄漏電流測(cè)量結(jié)果時(shí),還常采用不對(duì)稱系數(shù) (即三相之中的最大值和最小值的比) 進(jìn)行分析、判斷。一般說來不對(duì)稱系數(shù)不大于2。

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