回路電阻測(cè)試儀測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)要求及測(cè)試原理
電力系統(tǒng)許多大電流電氣設(shè)備在預(yù)防性試驗(yàn)和交接試驗(yàn)中需要準(zhǔn)確測(cè)量回路的電阻值。斷路器是電力系統(tǒng)重要的電氣設(shè)備,依照最新標(biāo)準(zhǔn)《JJG1052-2009回路電阻檢定規(guī)程》、國(guó)標(biāo)GB763、GB50150和電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T596對(duì)斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量均作了規(guī)定,應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量,電流不小于100A。
斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的測(cè)量有許多種方法。日本學(xué)者Isao Minowa提出用超導(dǎo)量子器件測(cè)量接觸電阻,H.Archi提出利用電解槽法測(cè)量接觸電阻,波蘭學(xué)者 Jerzy Kaczarek提出用三次諧波法測(cè)量接觸電阻,這些方法一般是在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行電接觸研究所采用的方法。在實(shí)際的電力工程中,通常采用四端子法來(lái)測(cè)量實(shí)際觸點(diǎn)的接觸電阻。
以前,通常采用直流雙臂電橋測(cè)量斷路器的接觸電阻。但是,當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí),由于雙臂電橋測(cè)量回路通過(guò)的是微弱的電流,難以消除電阻較大的氧化膜,測(cè)出的電阻示值偏大,但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿,不妨礙正常電流通過(guò)。
武漢市合眾電氣研發(fā)生產(chǎn)的全新回路電阻測(cè)試儀又稱(chēng)接觸電阻測(cè)試儀,英文名稱(chēng):Loop Resistance Tester。按新《電力設(shè)備交接和預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量,其測(cè)試電流不得小于100A。
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)中的回路電阻測(cè)試采用直流壓降法測(cè)試時(shí),電流不得太小。高壓斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在,增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗,使接觸處的溫度升高,其值的大小直接影響正常工作時(shí)的 載流能力,在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此,斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修、質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。
根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《DL/T 596 - 1996 》的要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過(guò)時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)?;蚨ㄆ趯?duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
武漢市合眾電氣依據(jù)新規(guī)程要求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)出新一代HLY系列智能回路電阻測(cè)試儀,適用于測(cè)試高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值,高低壓電纜線(xiàn)路的直流電阻值等。HLY系列回路電阻測(cè)試儀,具有體積小、重量輕、抗干擾能力強(qiáng)、精度高、操作方便、保護(hù)功能完善等特點(diǎn)。