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超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)要求試驗(yàn)方法

  電力設(shè)備專(zhuān)用測(cè)試儀器通用技術(shù)條件,超低頻高壓發(fā)生器技術(shù)要求試驗(yàn)方法,安全絕緣性能試驗(yàn)。

  1、絕緣電阻,用500V兆歐表測(cè)量輸入電源接線(xiàn)柱與超低頻高壓發(fā)生器的任何可觸及的金屬部件之間的絕緣電阻,應(yīng)滿(mǎn)足規(guī)程的要求。

  2、耐壓試驗(yàn),輸入電源接線(xiàn)柱與超低頻高壓發(fā)生器的任何可觸及的金屬部件之間施加工頻電壓2.0kV,耐受lmin,應(yīng)無(wú)明顯放電現(xiàn)象。

  3、倍額定輸出電壓試驗(yàn),超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器),零起升壓,使輸出電壓逐步上升至1.1倍額定值,保持10min。超低頻高壓發(fā)生器高壓各部分應(yīng)無(wú)明顯放電,過(guò)電壓、過(guò)電流保護(hù)裝置不應(yīng)動(dòng)作。

超低頻高壓發(fā)生器

  4、輸出電壓和波形檢驗(yàn)

  1)電壓峰值不穩(wěn)定度試驗(yàn),超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接 50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測(cè)量裝置,在60min 內(nèi)測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0 倍額定值時(shí),分10 次測(cè)量輸出電壓峰值。通過(guò)計(jì)算,輸出電壓峰值不穩(wěn)定度應(yīng)滿(mǎn)足5.4a)的要求。

  2) 電壓頻率穩(wěn)定度試驗(yàn),超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測(cè)量裝置,在60min 內(nèi)測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0 倍額定值時(shí),分10 次測(cè)量輸出電壓頻率。通過(guò)計(jì)算,輸出電壓頻率不穩(wěn)定度應(yīng)滿(mǎn)足規(guī)程的要求。

  3)正弦電壓的波形畸變率試驗(yàn),超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測(cè)量裝置,測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出正弦電壓的波形畸變率應(yīng)滿(mǎn)足規(guī)程的要求。

  4 )余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間試驗(yàn),超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接電容量為50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測(cè)量裝置,測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足規(guī)程的要求。

  5) 正/負(fù)半周周期對(duì)稱(chēng)性試驗(yàn),超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于 1.0%的電壓測(cè)量裝置,測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓的正/負(fù)半周周期的絕對(duì)誤差應(yīng)滿(mǎn)足規(guī)程的要求。